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Vortrag

Graphit in randscharfen Einbettmitteln und dessen Einfluss auf die Qualität von EBSD-Messungen von dünnen Oxidschichten

Freitag (18.09.2020)
09:00 - 09:20 Uhr

Um dünne Oxidschichten im Rasterelektronenmikroskop (REM) sinnvoll mittels Elektronen-Rückstreubeugung (EBSD) zu charakterisieren ist sowohl eine die Leitfähigkeit der Einbettmasse, als auch ihre Randschärfe wesentlich. Da in kommerziell erhältlichen Einbettmassen das eine meist das andere ausschließt, wurden in dieser Arbeit kommerziell erhältlichen Einbettmassen unterschiedliche Graphitgehalte beigemengt um sowohl eine gute Leitfähigkeit, als auch eine hohe Randschärfe und somit eine ausreichende Stützwirkung auf das Oxid zu erzielen. Dies wurde im Rahmen von Vorversuchen (3 verschiedene Einbettmassen) auf austenitischen Proben zunächst validiert und dann mit dem Bestperformer-Einbettmittel und einer erprobten Schleif- und Polierroutine für dünnen Oxidschichten (1-10 µm) erprobt. Es zeigt sich, dass Graphitgehalte ab 5% ausreichen, um sinnvolle Ergebnisse zu erzielen um auch dünne Oxidschichten gut mittels EBSD zu charakterisieren.

Sprecher/Referent:
Harald Rojacz
AC2T Research GmbH
Weitere Autoren/Referenten:
  • Markus Premauer
    AC2T research GmbH
  • Dr. Andreas Nevosad
    AC2T research GmbH